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安全保障和非破壞性分析（NDA）應(yīng)用中所需的精確同位素比率測(cè)量對(duì)伽馬射線和X射線光譜技術(shù)提出了嚴(yán)格的要求。對(duì)能量區(qū)域的選擇具體取決于樣品類(lèi)型、源以及材料基質(zhì)。
為獲得高精度同位素比而編寫(xiě)的國(guó)家實(shí)驗(yàn)室軟件代碼必須能夠處理這些光譜以分析其中峰組緊靠在一起的低能量和/或高能量區(qū)域。每個(gè)代碼都需要的系統(tǒng)分辨率和穩(wěn)定性，以準(zhǔn)確展開(kāi)這些區(qū)域。
最近的安全保障發(fā)展趨勢(shì)促進(jìn)了同位素比率測(cè)定需求的不斷增長(zhǎng)，其中涉及到更高的能量伽馬射線。這需要測(cè)量衰減樣品，例如在廢物分析和某些國(guó)土安全應(yīng)用中發(fā)現(xiàn)的樣品。現(xiàn)在，諸如FRAM和MGAHI的軟件代碼可以從光譜的較高能量區(qū)域確定Pu同位素比率。因此，希望生產(chǎn)這樣一種HPGe探測(cè)器，它既具有更高的能量性能，同時(shí)又能保持這些應(yīng)用中所需的優(yōu)異分辨率特性。
ORTEC安全保障系列包括同軸和平面幾何探測(cè)器，專門(mén)設(shè)計(jì)用于滿足同位素比率測(cè)定中應(yīng)用軟件的需求，可在低能量分辨率和高能效之間達(dá)到平衡。
SGD系列探測(cè)器與所有常規(guī)MCA型號(hào)兼容，與ORTEC數(shù)字信號(hào)處理光譜儀一起使用時(shí)可獲得性能。
所有SGD探測(cè)器都具有以下特點(diǎn)：
- 可選擇固定式、便攜式和定制低溫恒溫器，包括的MOD多方位杜瓦瓶選件。
- 堅(jiān)固耐用的鋁制端蓋
- 精簡(jiǎn)型前置放大器組件
- 無(wú)LN2選件
的低功耗電阻反饋前置放大器，具有“無(wú)環(huán)”輸出，適用于所有現(xiàn)有類(lèi)型的MCA系統(tǒng)。在±12和±24 V時(shí)功耗小于25 mA
應(yīng)用注意事項(xiàng)
對(duì)于厚壁容器中的樣品，或當(dāng)存在顯著的基質(zhì)衰減時(shí)，可能需要使用更高的頻譜能量區(qū)域來(lái)進(jìn)行分析。在這些情況下，開(kāi)發(fā)了同軸或半同軸的SGD-GEM探測(cè)器，以在低能量分辨率和高能效之間達(dá)到平衡。
SGD-GEM-5050P4是用于FRAM的“傳統(tǒng)”同軸探測(cè)器，適用于各種情況，包括UF6鋼瓶的測(cè)量。
SGD-GEM-5030P4具有半平面幾何形狀，更加實(shí)用，可以替代“望遠(yuǎn)鏡”探測(cè)器，在所謂的“雙探測(cè)器”模式下通常使用TRIFID和MGA代碼。最近在晶體和前置放大器技術(shù)方面的進(jìn)步使得用單個(gè)SGD-GEM-5030P4探測(cè)器同時(shí)收集高能和低能光譜成為可能。
SGD-GEM-6560P4專門(mén)用于提供大面積探測(cè)器，滿足FRAM代碼的分辨率要求，具有良好的高能效和大探測(cè)面積。
